Rentgenski absorpcijski spektroskopski metodi EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) in XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure) sta uveljavljeni in široko uporabljeni orodji za določanje atomske oziroma molekularne strukture novih materialov s sinhrotronsko svetlobo. Spektri XANES dajejo informacijo o valenčnem stanju in lokalni simetriji preiskovanega atoma, medtem ko je iz spektrov EXAFS mogoče določiti vrsto in število sosedov ter njihovo razdaljo od izbranega atoma, pa tudi njihov statični in termični nered. Metodi sta še posebej uporabni pri analizi snovi brez reda dolgega dosega, to je neurejenih, amorfnih in nanostrukturnih snovi ter tekočin in molekul v plinih, kjer standardna strukturna analiza z rentgensko difrakcijo odpove. Pri dosedanjih raziskavah smo metodi uspešno uporabili pri razvoju več tehnološko pomembnih materialov, kot so npr. mikroporozni katalizatorji, feroelektrične keramike, zaščitne prevleke, nanostrukturni materiali in nekatere farmakološko pomembne molekule. V okviru predavanja pa bodo predstavljeni predvsem novi izzivi in možnosti, ki jih metodi nudita na področju iskanja rešitev pri onesnaženju okolja s težkimi kovinami in pri projektu ohranjanja historičnih pisnih dokumentov iz kulturne dediščine, pri katerih papir razpada zaradi korozivnih lastnosti železo galnih črnil.